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Nanjing quatrième instrument analytique Co., Ltd
Microscope métallographique vertical modèle xjl - 02a
NégociableMise à jour sur10/27
- Modèle
- Nature du fabricant
- producteurs
- Catégorie de produit
- Lieu d'origine
Vue d'ensemble
Microscope métallographique vertical de type xjl - 02a paramètres techniques principaux: instrument caractéristiques clés Description: microscope métallographique vertical de type xjl - 02a caractéristiques principales: la distance focale négative (F = 33mm) est adoptée dans le système optique du microscope métallographique vertical de type xjl - 02a, l'oculaire photographique adopte un champ de vision de conception de Champ plat en même temps que le système d'observation binoculaire, avec l'avantage d'être plat et clair
Détails du produit
Microscope métallographique vertical modèle xjl - 02a
Principaux paramètres techniques:
Description des principales caractéristiques de l'instrument:
Microscope métallographique vertical modèle xjl - 02a
Caractéristiques principales:
La longueur focale négative (F = 33 mm) est utilisée dans le système optique de microscope métallographique vertical de type xjl - 02a, et l'oculaire photographique a l'avantage d'être plat et net avec un champ de vision de conception à champ plat en même temps que le système d'observation binoculaire. Ce produit a des fonctions telles que le champ visuel clair, le champ de vision sombre, la polarisation, la projection, la comparaison de grains, etc. il peut être utilisé par les unités de recherche scientifique générale, les usines et les écoles pour les Essais métallographiques et métallographiques.
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