Détails du diffractomètre à rayons X ultima IV Series combo multifonction:

I. Introduction aux instruments

Multifonctions combinéesXDiffractomètre de rayonsUltima IVLa série est un cristal de poudre multifonctionnel haute performanceXDiffractomètre de rayons, il adopte la science *CBOSystème optique croisé, un instrument peut effectuer des échantillons de poudre ordinaire à inclureIn-PlaneTest d'échantillons de film à l'intérieur. Avec une structure combinée, divers tests peuvent être effectués par différentes combinaisons de différentes unités.

II. Paramètres techniques

1. XLa puissance du générateur de rayons est3KW

2. Goniomètre est goniomètre horizontal

3. Goniomètre zui petit pas pour1 / 10 000Degrés

4. Goniomètre avec fente variable programmée

5. Monochromateur graphite à haute efficacité réfléchissante

6. CBOChemin optique croisé, offrant un chemin optique focalisé et un chemin optique parallèle haute résolution haute intensité (avecMirror) (unique en sciences)

7. Composants de test de diffusion aux petits Angles

8. Composants de test de film multifonctions

9. Composants de test de microzone

10. In-PlaneComposants de test (exclusifs à la science)

11. Détecteur haute vitesseD/teX-Ultra

12. XDiffraction des rayons- Oui.Appareil de mesure simultanée du calorimètre à balayage différentielXRD-DSC

13. Le logiciel d'analyse comprend:XRDPackage d'analyse,NANO-SolverPaquets logiciels,GXRRPaquets logiciels, etc.

Iii. Caractéristiques principales

Multifonctions combinéesXDiffractomètre de rayonsUltima IVSérie, peut être largement utilisé dans divers domaines de l'analyse structurelle de divers matériaux.

Les matériaux qui peuvent être analysés sont: les matériaux métalliques, les matériaux inorganiques, les matériaux composites, les matériaux organiques, les nanomatériaux, les matériaux supraconducteurs.

Les états des matériaux qui peuvent être analysés comprennent: échantillon de poudre, échantillon de masse, échantillon de film mince, micro - zone micro - échantillon

Les principales applications sont:

1. Analyse qualitative et quantitative de la phase substance des échantillons de poudre

2. Calculer la cristallisation, la taille des grains

3. Détermination du système cristallin, taille des grains et distorsion

4. RietveldAnalyse structurelle

5. Analyse d'échantillons de film mince, y compris la phase de matériau de film mince, épaisseur de film multicouche, rugosité de surface, densité de charge

6. In-PlaneLe dispositif peut mesurer simultanément la structure dans la direction verticale de l'échantillon et la structure dans la direction de la profondeur de l'échantillon

7. Petite diffusion angulaire et distribution granulométrique des nanomatériaux

8. Analyse des échantillons de microzones